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佐藤 進
AIP Conference Proceedings 1336, p.560 - 564, 2011/06
被引用回数：1 パーセンタイル：48.29(Physics, Applied)In J-PARC, three experimental facilities are in operation; materials and life science facility (MLF), neutrino facility (NU), and hadron physics facility (HD). Since 2006, beam commissioning of the accelerator has been performed, and productions of neutrons, muons, kaons, and neutrinos were performed. Currently, nine experiments in HD, and one in NU (T2K experiment, for 
-oscillation), are approved. The nine in HD include, search for penta-quark, search for deeply-bound kaonic nuclear states by in-flight 
(
,
) reaction, measurement of X-rays from 
atom, spectroscopic study of hypernucleus, 
experiment, and so on. In 2010, the T2K began to observe at Kamioka, and hyper nucleus experiments observed 
through 
(,
) reaction. In this report, progress of accelerator commissioning and status of experiments in nuclear and particle physics are presented.
小林 鉄也
AIP Conference Proceedings 1336, p.29 - 32, 2011/06
被引用回数：0 パーセンタイル：0.01(Physics, Applied)J-PARCは世界最大級を目指す大強度陽子加速器であり、大きく分けて400MeVリニアック,3GeVシンクロトロン(RCS: Rapid Cycling Synchrotron)及び50GeVシンクロトロン(MR: Main Ring)の3種類の加速器で構成され、さまざまな目的のため、幾つか実験施設に大強度ビームを供給する。そのリニアックでは負水素イオン(H)を、RFQ, 3式のDTL及び16式のSDTL空洞を用いて324MHzの加速高周波で191MeVまで加速する。さらに21式のACS空洞を用いて972MHzの加速高周波により400MeVに達成する。現在ではSDTL空洞15式による181MeV加速を行っている。RCSの入射ビームは動量広がり(
p/p)が
0.1%以下であることが必要で、そのためリニアックの加速電界の安定性は、位相,振幅変動それぞれ1度,1%以内が要求される。これを実現するため、高安定な光基準信号分配システムが開発され、またFPGAによる高機能なデジタルフィードバック(FB)制御システムにより加速電界の安定化制御を行っている。その結果、非常に安定で再現性の高いビームを供給可能となり、ビームコミッショニング及び利用実験を順調に進めることができた。その他J-PARCリニアックの主な特徴及び現在の状況等を報告する。
大久保 猛; 石井 保行; 神谷 富裕
AIP Conference Proceedings 1336, p.176 - 180, 2011/06
被引用回数：3 パーセンタイル：74.8(Physics, Applied)The focused gaseous ion beam system composed of a series of electrostatic lenses, called "acceleration lens system", has been developed to form nanobeams using gaseous ions generated from a plasma ion source. A new all-in-one compact acceleration system including an acceleration tube is now under development to form 300 keV ion nanobeam. Chromatic and spherical aberrations are, however, hindrance to form nanobeams with their smaller sizes in diameter. A deceleration lens, which performs like a defocusing lens, was theoretically introduced to downstream of the present acceleration lens system to reduce the aberrations. Ion beam optics simulations were carried out and we reduced the chromatic aberration coefficient by 26%, the spherical aberration coefficient by 17% and a beam diameter by 17%, with the deceleration energy of 15 keV. The final beam diameter of 103 nm at 300 keV is obtained by the all-in-one acceleration lens system with the total acceleration length of only 650 mm.
大島 武; 岩本 直也; 小野田 忍; 牧野 高紘; 出来 真斗; 野崎 眞次*
AIP Conference Proceedings 1336, p.660 - 664, 2011/05
被引用回数：1 パーセンタイル：48.29(Physics, Applied)炭化ケイ素(SiC)デバイスのイオン照射効果解明を目的に、エピタキシャル基板上に作製した金属-酸化膜-半導体(MOS)キャパシタに酸素15MeVイオンマイクロビームを照射し、発生するイオンビーム誘起過渡電流(Transient Ion Beam Induced Current: TIBIC)を測定した。その結果、デバイスに逆方向電圧-10Vを印加した場合、測定当初はTIBICシグナルのピーク高さは0.18mA程度であるが、測定を続け、1800発のイオン入射後には0.10mAまで低下することが判明した。イオン照射をいったん停止し、デバイスへ順方向電圧1Vを印加し、さらに-10V印加し直して測定を再開したところ、低下していたピーク高さが0.18mAとなり、初期値まで回復した。順方向の電圧によりピーク高さが戻ったことから、SiCと酸化膜の界面に存在する深い界面準位がイオン入射により発生した大量の電荷により中性化されることで実効的な印加電圧が減少し、TIBIC測定中にシグナルのピークが減少したと考えられ、このことから、SiC MOSデバイスの照射効果の理解には界面準位の電荷挙動も考慮しなければならないということが結論できる。
